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--檢出部
測定方式 | 非接觸式激光掃描 |
光源 | 半導體鐳射 |
防護構(gòu)造 | 防塵構(gòu)造 |
使用環(huán)境 | 溫度0-45℃、濕度35-85%RH |
種類 | 型號 | 測量范圍(mm) | 精度[μm] | 分辨率 | 重量 |
單軸分離型 | LDM-302H-SP | 0.05~5 | ±1μm | ±0.1μm | 1kg |
LDM-303H-SP | 0.3~30 | ±2μm | ±0.1μm | 0.9kg | |
LDM-304H-SP | 0.5~90 | ±5μm | ±1μm | 2.3kg | |
LDM-305H-SP | 1~180 | ±10μm | ±1μm | 11kg | |
LDM-306H-SP | 2~300[*2] | ±30μm | ±1μm | 28kg |